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温度传感器

温度实时监测,数据即刻反映
*仅支持新型号

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可靠测试的自动测针清洁

助焊剂无残留,测量稳定性再升级
*仅支持新型号

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全光谱传感器

LED色彩测试新高度,紫外线与红外线检测尽在掌控
*仅支持新型号

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侧面照明

阴影赋予深度,凸显清晰轮廓
*仅支持新型号

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支持HERMES通讯协议

传递复杂信息,从未如此简单
*仅支持新型号

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IC Open测试系统

对BGA, QFP, SOJ等元件的引脚浮起和BGA焊接不良进行电气检测

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LED颜色测试系统

自动检测LED元件的色彩和亮度

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激光位移测量系统

电路测试+激光位移测量的复合测试

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垂直测针

提升测试覆盖率

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在线机型

搭配自动输送系统应用于量产电路板检测

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与JTAG边界扫描测试的联动

与JTAG边界扫描测试的联动
通过ICT和BST的相互补充,创造新的价值

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多探针系统

通过专用治具上的多探针连接到外部设备

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通过OPC UA与MES系统联动

跨越设备类型、系统、备产商实现数据交互

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温度传感器

温度实时监测,数据即刻反映

新开发的温度传感器通过测量电压-电流(V-I)曲线来检测传统在线测试无法发现的半导体故障和组件装配错误。此外,该传感器还具备温度补偿和非接触式测量功能,可防止温度漂移,从而进一步提升测试覆盖率。
*仅支持新型号

可靠测试的自动测针清洁

助焊剂无残留,测量稳定性再升级

系统配备了测针清洁器,可自动清除测针上残留的助焊剂和灰尘。用户可以自由设定清洁频率。该设计有效减少误判,确保检测过程的稳定性和可靠性。
*仅支持新型号

全光谱传感器

LED色彩测试新高度,紫外线与红外线检测尽在掌控

通过使用全光谱传感器测量,可测量波长范围从340nm到1010nm,支持传统LED颜色测试无法覆盖的紫外线(UV)和红外线(IR)范围的LED检测。
* 适用于APT-2400F系列和APT-2600FD系列(与LED色彩传感器互斥)
*仅支持新型号

侧面照明

阴影赋予深度,凸显清晰轮廓

通过从斜角照射物体,使之因表面的不规则性形成阴影,从而更容易捕捉物体的轮廓。
有效读取激光雕刻的1D和2D条码和文字。侧面照明可安装在1、4、5和6轴上。
*仅支持新型号

支持HERMES通讯协议

传递复杂信息,从未如此简单

在传统的SMEMA标准通信基础上,新增支持IPC-HERMES-9852规格通信。
HERMES标准是一种开放式标准,用于电子组装生产线中设备之间传递生产数据。相比SMEMA标准,它提供了更广泛的功能,可交换更详细的产品信息、生产过程数据、设备运行状态以及质量管理数据等复杂信息。
它能够实现与生产管理系统和质量管理系统的无缝连接,从而支持更高级的数据交换和生产过程控制。
*仅支持新型号

IC Open测试系统

对BGA, QFP, SOJ等元件的引脚浮起和BGA焊接不良进行电气检测

传感器探针移动至IC封装上,读取IC内部辐射出的微小信号并进行数值判断。
在确保不损坏IC的同时,通过电气检测IC引脚和BGA焊球的焊接不良等问题。

LED颜色测试系统

自动检测LED元件的色彩和亮度

LED测试
无需专用治具即可点亮电路板上的LED,使用专用的色彩传感器检测发出的颜色。将通常难以目视区分的色调、饱和度和亮度数值化,从而在明确标准下实现稳定测试。

激光位移测量系统

电路测试+激光位移测量的复合测试

通过使用激光光学测量以非接触方式测量电路板表面和元件之间的高度差,从而发现无法通过电路测试检测的元件贴装缺陷。
并且通过激光还能检测电路板翘曲量并自动校正探针接触位置,从而提升接触精度。

APT-1400F系列:可选 APT-1600FD系列:标准

垂直测针

提升测试覆盖率

在标准的四个倾斜探针上增加了两个垂直探针,补足了倾斜针无法接触到的点,例如高元件之间的缝隙、通孔和连接器的针尖,从而增强缺陷检测能力。
用户可以根据测试对象的形状选择不同尖端形状的探针。
检测程序可自动切换不同类型的垂直探针,消除了手动更换探针的需要,使测试更加高效。

在线机型

搭配自动输送系统应用于量产电路板检测

飞针测试仪可集成到生产线进行在线测试,以实现高效的批量生产。通过与SMT线、上板机/下板机/翻板机连接实现全自动测试,减少了操作员的负担并节省了劳动力成本。

与JTAG边界扫描测试的联动

与JTAG边界扫描测试的联动
通过ICT和BST的相互补充,创造新的价值

飞针测试仪在测试模拟电路中的元件的电气特性测试方面表现出色。然而,无法接触的部件难以进行电气测试和数字电路的功能测试。在这种情况下,边界扫描测试可以快速执行LSI引脚之间的互连测试并对FPGA等进行板载编程,但是也面临只能测试符合边界扫描标准的IC周围的数字电路,并且连接需要专用治具进行连接的课题。

TAKAYA通过独创技术,将边界扫描测试所需的4-5个扫描引脚和边界扫描设备之间的治具替换为飞针。通过这项技术可以使用飞针代替边界扫描测试所需的4-5个扫描引脚和连接测量仪器的治具。通过这项技术,即使边界扫描兼容IC的对端是非边界扫描兼容IC或被动元件(如连接器等),也可以将飞针作为虚拟的边界扫描单元来进行边界扫描测试。利用一台飞针测试仪即可对数字和模拟电路进行全面检测,显著提高检测效率。

多探针系统

通过专用治具上的多探针连接到外部设备

APT-1600FD系列的底部工作轴可安装多探针机构升降机构。可以在进行在线测试的同时,进行与外部设备连接的特殊检测,如BST(JTAG边界扫描测试),以及FPGA等IC的程序写入/读取。

通过OPC UA与MES系统联动

跨越设备类型、系统、备产商实现数据交互

OPC UA(OPC Unified Architecture)是为工业中安全可靠的数据交换而建立的开放国际标准。OPC Foundation于2008年发布,随后作为IEC62541国际标准,并被推荐为工业4.0的标准通信在全球范围内推广运用。
TAKAYA飞针测试仪可选配OPC UA服务器,以顺应工业物联网标准(IoT)的智能化,桥接工厂自动化设备和IT网络。

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APT-2400F

单面检测四探针入门型号

APT-2400F支持对高密度贴装电路板的测试,具备行业领先的测针精度,能够在包括车辆、飞机和医疗设备等各种环境下实现高度可靠的电气测试。其超高速测试能力可达0.02秒/测步,确保高效且精准的测试体验。

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APT-2400F-SL

单面检测四探针入门型号

APT-2400FD-SL支持对大尺寸贴装电路板的测试,例如电源板和探针卡。它能够测试尺寸达到985 x 610mm的电路板。该设备不仅实现了高精度的定位,还具备高速测试的能力,确保高效且准确的测试过程。

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  • Stand-alone type / Inline type
  • Double sided

APT-2600FD

双面检测六探针旗舰型号

APT-2600FD在顶部配备了四根测针,底部配备两根测针。每根测针均可独立高速自由移动,通过双面同时接触,实现了世界领先的测试速度。该结构有助于大幅提升测试效率,拓展卓越的性能表现。

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APT-2600FD-SL

适用于大型基板的双面检测六探针旗舰型号

APT-2600FD-SL在保持APT-2600FD基本性能的同时进一步扩大了测试范围,实现了更高的测试效率,满足了更大尺寸电路板的测试需求。

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APT-1400F

单面检测四探针入门型号

APT-1400F作为入门款能够测试各种类型的贴装电路板。其卓越的性能和广泛的适用性可满足不同客户的需求,是行业内的理想选择。

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APT-1400F-SL

适用于大基板的单面检测四探针型号

APT-1400F-SL专为大尺寸贴装电路板的测试而设计。其出色的测试能力,能够满足对大尺寸电路板的高效检测需求,确保产品质量与性能的可靠性。

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APT-1600FD

双面检测六探针旗舰型号

APT-1600FD的顶部配备了四根测针,底部配备两根测针。每根测针均可独立高速自由移动,实现了世界领先的测试速度,确保高效、精准的检测性能。

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APT-1600FD-SL

适用于大型基板的双面检测六探针旗舰型号

APT-1600FD-SL能够测试尺寸达到985×610mm的电路板。通过六根测针的组合测试,大幅扩展了测试能力的同时缩短了检测时间。

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