选件

对BGA, QFP, SOJ等元件的引脚浮起和BGA焊接不良进行电气检测

传感器探针移动至IC封装上，读取IC内部辐射出的微小信号并进行数值判断。
在确保不损坏IC的同时，通过电气检测IC引脚和BGA焊球的焊接不良等问题。

自动检测LED元件的色彩和亮度

LED测试
无需专用治具即可点亮电路板上的LED，使用专用的色彩传感器检测发出的颜色。将通常难以目视区分的色调、饱和度和亮度数值化，从而在明确标准下实现稳定测试。

电路测试+激光位移测量的复合测试

通过使用激光光学测量以非接触方式测量电路板表面和元件之间的高度差，从而发现无法通过电路测试检测的元件贴装缺陷。
并且通过激光还能检测电路板翘曲量并自动校正探针接触位置，从而提升接触精度。

APT-1400F系列：可选 APT-1600FD系列：标准

提升测试覆盖率

在标准的四个倾斜探针上增加了两个垂直探针，补足了倾斜针无法接触到的点，例如高元件之间的缝隙、通孔和连接器的针尖，从而增强缺陷检测能力。
用户可以根据测试对象的形状选择不同尖端形状的探针。
检测程序可自动切换不同类型的垂直探针，消除了手动更换探针的需要，使测试更加高效。

搭配自动输送系统应用于量产电路板检测

飞针测试仪可集成到生产线进行在线测试，以实现高效的批量生产。通过与SMT线、上板机/下板机/翻板机连接实现全自动测试，减少了操作员的负担并节省了劳动力成本。

与JTAG边界扫描测试的联动
通过ICT和BST的相互补充，创造新的价值

飞针测试仪在测试模拟电路中的元件的电气特性测试方面表现出色。然而，无法接触的部件难以进行电气测试和数字电路的功能测试。在这种情况下，边界扫描测试可以快速执行LSI引脚之间的互连测试并对FPGA等进行板载编程，但是也面临只能测试符合边界扫描标准的IC周围的数字电路，并且连接需要专用治具进行连接的课题。

TAKAYA通过独创技术，将边界扫描测试所需的4-5个扫描引脚和边界扫描设备之间的治具替换为飞针。通过这项技术可以使用飞针代替边界扫描测试所需的4-5个扫描引脚和连接测量仪器的治具。通过这项技术，即使边界扫描兼容IC的对端是非边界扫描兼容IC或被动元件（如连接器等），也可以将飞针作为虚拟的边界扫描单元来进行边界扫描测试。利用一台飞针测试仪即可对数字和模拟电路进行全面检测，显著提高检测效率。

通过专用治具上的多探针连接到外部设备

APT-1600FD系列的底部工作轴可安装多探针机构升降机构。可以在进行在线测试的同时，进行与外部设备连接的特殊检测，如BST（JTAG边界扫描测试），以及FPGA等IC的程序写入/读取。

跨越设备类型、系统、备产商实现数据交互

OPC UA（OPC Unified Architecture）是为工业中安全可靠的数据交换而建立的开放国际标准。OPC Foundation于2008年发布，随后作为IEC62541国际标准，并被推荐为工业4.0的标准通信在全球范围内推广运用。
TAKAYA飞针测试仪可选配OPC UA服务器，以顺应工业物联网标准（IoT）的智能化，桥接工厂自动化设备和IT网络。